BS EN 1279-3-2003 建筑玻璃.绝缘玻璃组件.长期试验法以及漏气率和气体浓度公差的要求

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 01:12:50   浏览:9626   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Glassinbuilding-Insulatingglassunits-Longtermtestmethodandrequirementsforgasleakagerateandforgasconcentrationtolerances
【原文标准名称】:建筑玻璃.绝缘玻璃组件.长期试验法以及漏气率和气体浓度公差的要求
【标准号】:BSEN1279-3-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-01-08
【实施或试行日期】:2003-01-08
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q33
【国际标准分类号】:81_040_20
【页数】:30P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:炼焦工艺设计规范(附条文说明)
英文名称:Code for design of coking technology
中标分类: 工程建设 >> 原材料工业及通信、广播工程 >> 冶金工业工程
ICS分类:
发布部门:中华人民共和国住房和城乡建设部
发布日期:2007-10-25
实施日期:2008-05-01
首发日期:
作废日期:
起草单位:中冯焦耐工程技术有限公司
起草人:于振东、蔡承佑等
出版社:中国计划出版社
出版日期:2008-05-01
页数:67页
书号:1580058·971
适用范围

本规范适用于炭化室高度4.3m及以上、生产冶金焦的顶装焦炉和捣固焦炉的工艺设计。

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所属分类: 工程建设 原材料工业及通信 广播工程 冶金工业工程
基本信息
标准名称:半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
英文名称:Semiconductor devices--Sectional specification for discrete devices
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合
替代情况:被GB/T 12560-1999代替
发布日期:1990-12-06
实施日期:1991-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
起草单位:机械电子工业部电子标准化研究所
出版日期:1900-01-01
页数:12页
适用范围

本规范适用于除光电子器件之外的半导体分立器件。

前言

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引用标准

没有内容

所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合